低消費電力基板型再構成テスタの開発(テスタ開発, <小特集>LSIのテスト・診断技術論文)
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概要
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基板上のFPGAを使った低消費電力再構成テスタを開発した. このテスタは, 大型汎用テスタのテストプログラムから導かれたHDLをもとに構成される. 大型汎用テスタの様々なテスタリソースを置き換えるべく, 書込み可能なFPGAを用いて1枚の基板上に構成する. 開発した低消費電力基板型テスタはTOB(Tester On Board)と称し, TOB-IとTOB-IIを開発した. これらのテスタは低消費電力であり, TOB-Iは1W, TOB-IIは200Wの消費電力であった. すなわち, 大型汎用テスタの消費電力の1/100以下である. 更に, このテスタをHDDモータ駆動コンボICへ適用した例, 並びにそのグラフィックユーザインタフェースについても報告する. 大型汎用テスタと比較して, このテスタは安価であり, 全体的なテストコストの削減が期待できる.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2005-06-01
著者
-
岩崎 一彦
東京都立大学大学院工学研究科
-
新井 雅之
東京都立大学大学院工学研究科
-
福本 聡
東京都立大学大学院工学研究科
-
大塚 信行
イノテック株式会社
-
佐藤 正幸
東京都立大学大学院工学研究科:ジェネシス・テクノロジー株式会社
-
志水 勲
(株)ルネサステクノロジ
-
武藤 治
イノテック株式会社
-
上原 孝二
(株)ルネサステクノロジ
-
間明田 治佳
(株)ルネサステクノロジ
-
佐藤 正幸
エイシンシステム(株)
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