トランジション故障を検出するBIST指向テストパターン発生回路
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概要
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擬似ランダムパターンテストの欠点である長いテスト長を補う手法として, トランジション故障に対し短いテスト長で高い故障検出効率を達成するBIST指向テストパターン発生回路(TPG)を提案する.提案TPGはスキャン部にLFSR, シフトレジスタ, マルチプレクサを付加し構成される.ATPGベクトルの部分列をオンチップROMまたは外部テスタに格納し, スキャンインを行う.ATPGベクトルの部分列とLFSRで生成した擬似ランダムベクトルを混在させたテストパターンを発生する.ランダムパターン検出困難故障をATPGベクトルの部分列によって検出するので, 短いテスト長で高い故障検出効率を達成できる.動作クロックごとにスキャンインを行う必要がないため, 低速テスタを使用した実動作速度テストが可能である.格納するATPGベクトルを圧縮する手法も示す.提案手法をISCASベンチマーク回路に適用した場合のテスト長, 故障検出効率, ハードウェア量に関して評価し, 本手法の有効性を考察する.
- 2001-02-01
著者
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