3値テストパターンに対する遅延テスト品質計算とX割当について(遅延故障テスト,VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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本研究では,テストキューブに対する3値の遅延故障シミュレーションにおいて,故障遅延の遅延値の算出手法を提案する.テストキューブのXに論理値を割り当てる前は,各故障を検出可能な遅延値は一意に定まっていない.提案手法は,Xに論理値を割り当てた後のテストパターンで検出可能な遅延値の範囲を算出する.提案手法により,テストキューブのテスト品質の上限を求めることができる.本研究では,さらに,より良い品質のテストパターンが得られるように,遺伝的アルゴリズムを用いたテストキューブのXへの論理値割り当て手法を提案する.最後にベンチマーク回路による実験により提案手法の有効性を示す.
- 2010-02-08
著者
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
-
奥 慎治
九州工業大学
-
佐藤 康夫
九州工業大学
-
宮瀬 紘平
九州工業大学
-
温 暁青
九州工業大学
-
宮瀬 紘平
九州工業大学:jst Crest
-
温 暁青
九州工業大学:jst Crest
-
梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
-
佐藤 康夫
九州工業大学:jst Crest
-
奥 慎治
九州工業大学:jst Crest
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化システムセンター
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ
-
Kajihara S
Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn
-
Kajihara Seiji
Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology
-
梶原 誠司
九州工業大学
-
宮瀬 絋平
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest
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