実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
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概要
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スキャンテストのキャプチャモードにおいて,回路内部での過度のラウンチ信号変化が原因となってタイミングエラーを引き起こす可能性がある.このような誤テストを回避するためのキャプチャセーフテスト生成は,テスト歩留まり低下を避けるために重要である.しかし,従来技術では,ラウンチ信号変化をある程度削減することはできるが,完全なキャプチャセーフ性を保証することはできない.そこで本論文では,高精度のキャプチャセーフ判定性基準,及びX判定とX割当てによる効果的なキャプチャセーフテスト生成技術を提案する.更に,ベンチマーク回路を用いた実験データで提案手法の有効性を示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2008-11-10
著者
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
-
宮瀬 紘平
九州工業大学
-
温 暁青
九州工業大学
-
大和 勇太
九州工業大学大学院情報工学研究院
-
宮瀬 紘平
九州工業大学:jst Crest
-
温 暁青
九州工業大学:jst Crest
-
梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
-
古川 寛
九州工業大学大学院情報工学研究院
-
高嶋 敦之
九州工業大学大学院情報工学研究院
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化システムセンター
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ
-
Kajihara S
Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn
-
Kajihara Seiji
Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology
-
梶原 誠司
九州工業大学
-
宮瀬 絋平
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest
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