多重スキャンツリー設計によるテストデータ量・テスト印加時間の削減(テスト容易化設計,<特集>システムLSI設計とその技術)
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概要
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本論文では,多重スキャン設計に村してテストデータ量・テスト印加時間を削減する多重スキャンツリーを設計し,多重スキャンツリーに対するテスト集合を求めるまでの手順を提案する.まず,スキャンツリーのテストデータ量・テスト印加時間の評価法を示し,スキャンツリーの評価を容易化する.次に,単一スキャン入力に対するスキャンツリー設計から複数入力に対する多重スキャンツリー設計への拡張を行う.さらにスキャン出力数を制限した多重スキャンツリーを設計し,設計した多重スキャンツリーに対するテスト集合を求めるまでの手順を示す.ISCAS-89ベンチマーク回路に対する実験結果では,提案手法は通常の多重スキャン設計によるテストデータ量・テスト印加時間をそれぞれ76%削減することを示す.スキャンツリーの構築はスキャンアウトに必要な出力数を増加させるが,スキャン出力数を制限した場合でも,通常の多重スキャン設計のテストデータ量・テスト印加時間をそれぞれ62%削減することができることを示す.
- 一般社団法人情報処理学会の論文
- 2006-06-15
著者
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
-
宮瀬 紘平
九州工業大学
-
宮瀬 紘平
九州工業大学:jst Crest
-
レディ スダーカ
アイオワ大学
-
梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
-
宮瀬 紘平
科学技術振興機構
-
Kajihara S
Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn
-
梶原 誠司
九州工業大学
-
宮瀬 絋平
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest
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