劣化検知テストにおけるパス選択について(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-)
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概要
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VLSIの微細化に伴い,経時劣化による故障への対応が重要になってくる.劣化の進行度合いは,同じ回路であっても回路内の箇所によって異なる他,VLSIの利用状況(使用頻度や温度)で異なる.そのため,劣化の検知は,VLSIの出荷後にフィールドで行うことが望まれる.本論文では,BIST機構を用いたフィールドでの遅延テストを前提に,NBTIによる遅延増加の検知を行う際のテスト対象パス選択手法について,実動作に影響が生じやすいパスをテスト対象として選択する手法を述べる.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2009-11-25
著者
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
-
佐藤 康夫
九州工業大学
-
宮瀬 紘平
九州工業大学
-
温 暁青
九州工業大学
-
三浦 幸也
首都大学東京
-
宮瀬 紘平
九州工業大学:jst Crest
-
野田 光政
九州工業大学大学院情報工学府
-
温 暁青
九州工業大学:jst Crest
-
梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
-
佐藤 康夫
九州工業大学:jst Crest
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化システムセンター
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ
-
Kajihara S
Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn
-
Kajihara Seiji
Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology
-
三浦 幸也
首都大学東京システムデザイン学部
-
梶原 誠司
九州工業大学
-
宮瀬 絋平
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest
-
三浦 幸也
首都大学東京システムデザイン学部情報通信システム工学コース:独立行政法人科学技術振興機構crest
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