ランレングス符号とピンポイントテストパターン変換によるテストデータ量削減(VLSIの設計/検証/テスト及び一般テスト)
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概要
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本論では,ランレングス符号化によるテストデータ量削減効率の向上手法を提案する.提案手法は,与えられたテストパターンに対して,故障検出率を低下させることなく値を1〜0に変換できるビットを特定し,そのビット値を変換することで,長く連続する0を多く持つテストパターンに変換するものである.値を変換可能なビットはドントケア判定により求めるが,このとき変換するビットによって削減できるテストデータ量が異なることに注目する.論理値が1つの各ビットについて,値を0に変換したときのランレングス符号化によるテストデータ量削減ビット数をもって計算することにより,データ量削減効果の高いビットをピンポイントに指定する.そのビットが優先的にドントケアとなるようにテストパターンを変換し,テストデータ量削減に最適なテストパターンを求めることができる.ベンチマーク回路に対する実験では,提案手法によりテストデータ量を平均55%で削減できた.
- 一般社団法人情報処理学会の論文
- 2003-11-27
著者
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
-
Li Lei
デューク大学
-
Chakrabarty K
デューク大学
-
梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
-
Chakrabarty Krishnendu
デューク大学
-
土井 康稔
九州工業大学
-
Li L
Graduate Univ. For Advanced Studies Tokyo Jpn
-
梶原 誠司
九州工業大学
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