故障診断のための観測性の定量化について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
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概要
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現在の故障診断は, 回路の外部出力とスキャンフリップフロップを観測点として行うことが多い. しかし, 回路の大規模化により, これらの観測のみでは故障分解能が低下し, 診断時間も増大する. この問題を解決するには, 回路内に観測点を挿入することが有効であるが, 故障診断のための観測性の定量的評価手法が存在しないため, 観測点挿入による効果が不明瞭になり挿入手法の評価が困難になっている. そこで本論文では, 回路構造及び観測点から故障診断のための観測性の定量化について考察する.
- 2005-01-21
著者
-
温 暁青
九州工業大学
-
梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
-
真田 克
Necエレクトロニクス
-
真田 克
Necエレクトロニクス株式会社基盤技術開発事業本部テスト評価技術開発事業部
-
豊田 直哉
九州工業大学情報工学研究科
-
梶原 誠司
九州工業大学
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