スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力化に効果的なテスト集合変更について(VLSIの設計/検証/テスト及び一般(デザインガイア))
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概要
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スキャンテストのキャプチャ時においてフリップフロップでの論理値の遷移が多く起こると過度のIRドロップを引き起こす可能性があり, それは深刻な歩留まりの低下につながる.本論文では, テスト集合変更に基づいた手法を用いる.提案手法の特徴は(1)与えられたテストパターンに対し, 故障検出率を低下させずに, 選択したビットをドントケア(X)に変える新しい制約X判定手法と, (2)キャプチャ時の論理値の遷移数を削減するLCP(Low Capture Power)のため, Xへの論理値割り当て手法である.提案手法はチップ面積, タイミング, テスト集合サイズ, および故障検出率に影響なくキャプチャ時の消費電力を削減するため, テスト生成フローへ容易に組み込むことが出来る.ベンチマーク回路での実験結果は提案手法の効果を示している.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2005-11-25
著者
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
-
宮瀬 紘平
九州工業大学
-
温 暁青
九州工業大学
-
宮瀬 紘平
九州工業大学:jst Crest
-
鈴木 達也
九州工業大学情報工学部
-
梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
-
宮瀬 紘平
科学技術振興機構
-
皆本 義弘
科学技術振興機構
-
梶原 誠司
九州工業大学
-
宮瀬 絋平
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest
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