超微細 LSI のパス遅延故障に対するテスト圧縮法について(非縮退故障モデルテスト, VLSI 設計とテスト及び一般)
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概要
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本論文では, 論理回路のパス遅延故障に対するテストパターン圧縮手法を提案する.提案手法は, ある基準で選択された長いパスのパス遅延故障に対する2パターンテストの集合を生成する.各2パターンテストは, 故障リストに含まれる一つ以上の故障を検出するように生成される.そのとき, 2番目以降に選ばれる故障を, 生成されるパターンが対象故障以外の他のパス遅延故障も多く検出するように選択する.テスト対象となる長いパスは, プロセス変動やノイズの影響で実際に製造された回路では長いパスにならない可能性があるが, 提案手法は, テスト対象にはならなかったが実際には長いパスの故障を検出する可能性を高めることができる.実験では, 提案手法が非対象の長いパスの故障を多く検出するコンパクトなテスト集合を効率的に生成できることを示す.
- 2005-02-11
著者
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
-
温 暁青
九州工業大学
-
梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
-
佐藤 康夫
九州工業大学:jst Crest
-
浜田 周治
株式会社半導体理工学センター
-
福永 昌勉
株式会社半導体理工学センター
-
前田 敏行
株式会社半導体理工学センター
-
福永 昌勉
九州工業大学大学院情報工学研究科
-
佐藤 康夫
(株)半導体理工学研究センター
-
浜田 周治
(株)半導体理工学研究センター
-
前田 敏行
(株)半導体理工学研究センター
-
梶原 誠司
九州工業大学
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