前田 敏行 | 株式会社半導体理工学センター

スポンサーリンク

概要

• 前田 敏行の詳細を見る
• 同名の論文著者
• 株式会社半導体理工学センターの論文著者

関連著者

• 佐藤 康夫

  九州工業大学:jst Crest

• 浜田 周治

  株式会社半導体理工学センター

• 前田 敏行

  株式会社半導体理工学センター

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科

• 梶原 誠司

  九州工業大学:jst Crest

• 梶原 誠司

  九州工業大学

• 佐藤 康夫

  (株)半導体理工学研究センター

• 浜田 周治

  (株)半導体理工学研究センター

• 前田 敏行

  (株)半導体理工学研究センター

• 高取 厚夫

  (株)半導体理工学研究センター

• 温 暁青

  九州工業大学

• Kajihara S

  Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn

• 野津山 泰行

  (株)半導体理工学研究センター

• 佐藤 康夫

  株式会社半導体理工学センター

• 森島 翔平

  九州工業大学

• 福永 昌勉

  株式会社半導体理工学センター

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ

• 福永 昌勉

  九州工業大学大学院情報工学研究科

• 詫間 茜

  九州工業大学

• 高取 厚夫

  株式会社半導体理工学研究センター

もっと見る 閉じる

著作論文

• 統計的遅延品質モデル(SDQM)のフィージビリティ評価(評価モデル,ディペンダブルコンピューティング論文)
• 遷移遅延故障テストにおけるディレイ検出パス長計算の高速化手法の提案(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
• ブロードサイド方式におけるパス長を考慮した遷移故障用テストパターン生成について(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
• ディレイ品質を予測する統計的品質モデル(非縮退故障モデルテスト, VLSI 設計とテスト及び一般)
• 超微細 LSI のパス遅延故障に対するテスト圧縮法について(非縮退故障モデルテスト, VLSI 設計とテスト及び一般)

スポンサーリンク