高取 厚夫 | (株)半導体理工学研究センター

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概要

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• 同名の論文著者
• (株)半導体理工学研究センターの論文著者

関連著者

• 佐藤 康夫

  九州工業大学:jst Crest

• 浜田 周治

  株式会社半導体理工学センター

• 前田 敏行

  株式会社半導体理工学センター

• 高取 厚夫

  (株)半導体理工学研究センター

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科

• 梶原 誠司

  九州工業大学:jst Crest

• 佐藤 康夫

  (株)半導体理工学研究センター

• 浜田 周治

  (株)半導体理工学研究センター

• 前田 敏行

  (株)半導体理工学研究センター

• 野津山 泰行

  (株)半導体理工学研究センター

• 梶原 誠司

  九州工業大学

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ

• Kajihara S

  Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn

• 佐藤 康夫

  株式会社半導体理工学センター

• 高取 厚夫

  株式会社半導体理工学研究センター

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著作論文

• 統計的遅延品質モデル(SDQM)のフィージビリティ評価(評価モデル,ディペンダブルコンピューティング論文)
• 遷移遅延故障テストにおけるディレイ検出パス長計算の高速化手法の提案(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
• ディレイ品質を予測する統計的品質モデル(非縮退故障モデルテスト, VLSI 設計とテスト及び一般)

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