BIST指向 n検出 TPGの提案
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概要
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縮退故障のn検出テストは, 遅延故障やモデル化されていない故障の検出にも効果がある.本研究ではBISTを前提として, 部分ローテート型シフトレジスタを用いたテストパターン生成回路, およびATPGテストベクトルの選択手順を提案する.この回路はn×100%の故障バレージを保証する.シミュレーションにより, ISCAS'85, ISCAS'89回路に対して, n×100%(n=1, 2, 3, 5, 10, 15)故障カバレージを達成するベクトル数を評価した.その結果, 本方式によるベクトル数はATPGテストパターンに対して大幅に(52.3%-0.8%に)圧縮できることを示した.提案方式により, テスト時間の短縮とテストコストの削減が期待できる.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2000-11-23
著者
-
岩崎 一彦
東京都立大学大学院工学研究科
-
福本 聡
東京都立大学大学院工学研究科
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
-
市野 憲一
東京都立大学
-
斎藤 貴之
東京都立大学工学研究科電気工学専攻
-
梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
-
浅川 毅
東海大学
-
浅川 毅
東京都立大学工学研究科電気工学専攻
-
市野 憲一
東京都立大学大学院工学研究科
-
梶原 誠司
九州工業大学
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