スキャン極性調節とピンポイントテスト変換によるテスト圧縮(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
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概要
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本論文では,ランレングス符号化のテストデータ量削減効率を向上させるテストコンプレッション手法を提案する.提案手法は,スキャン極性調節とピンポイントテストパターン変換で構成される.スキャン極性調節では,フルスギャン回路に対する与えられたテスト集合に対して,テストパターン中のいくつかのスキャンセルの論理値を選択的に反転する.これはスキャンセルの否定出力^Q次のスキャンセルに連結することで実現することができる,ピンポイントテストパターン変換は,テストパターン中の指定した論理値1のビットを0に反転する.これらの手法では,反転するスキャンセルやビットを決定するためにgain-penalty表を用いる.ベンチマーク回路に対する実験結果では,提案手法によりテストデータ量を36%に削減でき,スキャンテスト時のスイッチングアクティビティも削減することができた.
- 一般社団法人情報処理学会の論文
- 2004-12-01
著者
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
-
温 暁青
九州工業大学
-
Li Lei
デューク大学
-
Chakrabarty K
デューク大学
-
梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
-
Chakrabarty Krishnendu
デューク大学
-
土井 康稔
九州工業大学
-
Li L
Graduate Univ. For Advanced Studies Tokyo Jpn
-
梶原 誠司
九州工業大学
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