Li Lei | デューク大学
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概要
関連著者
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梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
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Li Lei
デューク大学
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Chakrabarty K
デューク大学
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梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
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Chakrabarty Krishnendu
デューク大学
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土井 康稔
九州工業大学
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Li L
Graduate Univ. For Advanced Studies Tokyo Jpn
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梶原 誠司
九州工業大学
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温 暁青
九州工業大学
著作論文
- スキャン極性調節とピンポイントテスト変換によるテスト圧縮(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- スキャン極性調節とピンポイントテスト変換によるテスト圧縮(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- スキャン極性調節とピンポイントテスト変換によるテスト圧縮(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- スキャン極性調節とピンポイントテスト変換によるテスト圧縮(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- ランレングス符号とピンポイントテストパターン変換によるテストデータ量削減(VLSIの設計/検証/テスト及び一般テスト)
- ランレングス符号とピンポイントテストパターン変換によるテストデータ量削減(VLSIの設計/検証/テスト及び一般 テスト)(デザインガイア2003 -VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- ランレングス符号とピンポイントテストパターン変換によるテストデータ量削減(VLSIの設計/検証/テスト及び一般 テスト)(デザインガイア2003 -VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- ランレングス符号とピンポイントテストパターン変換によるテストデータ量削減(VLSIの設計/検証/テスト及び一般 テスト)(デザインガイア2003 -VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- ランレングス符号とピンポイントテストパターン変換によるテストデータ量削減