ランレングス符号とピンポイントテストパターン変換によるテストデータ量削減
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概要
- 論文の詳細を見る
- 2003-11-21
著者
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
-
Li Lei
デューク大学
-
Chakrabarty K
デューク大学
-
梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
-
Chakrabarty Krishnendu
デューク大学
-
土井 康稔
九州工業大学
-
Li L
Graduate Univ. For Advanced Studies Tokyo Jpn
-
梶原 誠司
九州工業大学
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