パス遅延故障テストにおける故障検出率の推定法
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概要
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本論文ではパス遅延故障テストにおける故障検出率の推定法を提案する.パス遅延故障のテストでは,論理回路のパス数はゲート数に対して爆発的に増加することがあり,またテスト不能パスが多く存在することが問題となる.テストパターンの故障検出率を計算すると非常に低くなるため,テスト不能パスの総数を求め,故障検出効率で評価することが望ましいが,厳密にテスト不能パスの総数を求めることは困難である.本論文ではテスト不能パス解析の結果から準テスト可能パスの一部を抽出し,そのテスト可能パス数の割合から故障検出効率を推定する手法を述べる.本論文の最後に,実験により本手法の有効性を示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2003-02-14
著者
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
-
竹岡 貞巳
松下電器産業株式会社半導体社開発本部システムLSI技術統括部
-
梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
-
福永 昌勉
株式会社半導体理工学センター
-
梶原 誠司
九州工業大学大学院情報工学研究科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ
-
竹岡 真巳
松下電器産業株式会社半導体社
-
福永 昌勉
九州工業大学大学院情報工学研究科
-
石田 亘司
九州工業大学大学院情報工学研究科
-
梶原 誠司
九州工業大学
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