パターンマージングによる遷移遅延故障用テストのパス遅延故障検出能力向上手法(低消費電力・遅延テスト・高精度欠陥推定,VLSI設計とテスト及び一般)

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概要

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• LSIの信号値伝搬が遅延する欠陥を検出するために,遅延テストが広く用いられている.本稿では,遷移遅延故障テストにおけるパス遅延故障の検出能力を向上させ,網羅的かつ高品質な遅延故障テストを実現する.ITC'99ベンチマーク回路に対する実験では,遷移遅延故障テストによって遷移遅延故障に加えて多くのパス遅延故障が検出できることを示す.

• 2012-02-06

著者

• 宮瀬 紘平

  九州工業大学

• 温 暁青

  九州工業大学

• 宮瀬 紘平

  九州工業大学:jst Crest

• 梶原 誠司

  九州工業大学:jst Crest

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化システムセンター

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ

• Kajihara S

  Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn

• Kajihara Seiji

  Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology

• 榎元 和成

  九州工業大学

• 梶原 誠司

  九州工業大学

• 宮瀬 絋平

  九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest

• 田中 広彬

  九州工業大学

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