低電力BISTにおけるシフトトグル率低減手法について(低消費電力・遅延テスト・高精度欠陥推定,VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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スキャン設計を用いた組込み自己テスト(BIST)では,テスト時の高い電力消費が問題である.本研究では,スキャンBISTにおいてスキャンFFの値をシフトする時にトグルするFFの割合(シフトトグル率)を低減することにより,テスト時の消費電力を低減する手法を提案する.提案手法では,テスト発生器で発生した疑似ランダムテストパターンの反転確率を減らす低減回路を付加する.実験では,低減回路によって生成されたテストパターンのシフトトグル率と故障検出率の測定結果について調べ,その有効性を示す.
- 2012-02-06
著者
-
佐藤 康夫
九州工業大学
-
宮瀬 紘平
九州工業大学:jst Crest
-
梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
-
佐藤 康夫
九州工業大学:jst Crest
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化システムセンター
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ
-
Kajihara S
Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn
-
Kajihara Seiji
Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology
-
宮瀬 絋平
九州工業大学大学院
-
梶原 誠司
九州工業大学
-
宮瀬 絋平
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest
-
加藤 隆明
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
-
王 森レイ
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻
-
王 森レイ
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻:独立行政法人科学技術振興機構crest
-
加藤 隆明
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:独立行政法人科学技術振興機構crest
-
王 森レイ
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST
-
加藤 隆明
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST
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