論理BISTの電力低減手法と評価(設計/テスト/検証)
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概要
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論理BISTのテスト時電力は通常のスキャンテストよりも高く電力低減が必要であるが,発生パターンのランダム性から,その制御は必ずしも容易ではない.またテスト時電力は,スキャン入力パターンが引き起こす電力,キャプチャ時の電力,及びスキャン出力パターンが引き起こす電力と分類でき,各々そのメカニズムが異なる.提案手法はスキャンパターンの変形回路とテスト時の制御により,故障検出率の低下が殆どなく,大幅な電力低減が可能であることを示す.
- 2012-06-15
著者
-
佐藤 康夫
九州工業大学
-
宮瀬 紘平
九州工業大学
-
佐藤 康夫
九州工業大学:jst Crest
-
梶原 誠司
九州工業大学
-
宮瀬 絋平
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest
-
加藤 隆明
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
-
王 森レイ
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻
-
加藤 隆明
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:独立行政法人科学技術振興機構crest
-
王 森レイ
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST
-
梶原 誠司
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST
-
宮瀬 紘平
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST
-
加藤 隆明
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST
-
佐藤 康夫
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST
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