ネットリストを用いたドントケアビット数の見積り手法に関する研究(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
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概要
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テストパターンの故障検出能力に加えて,テストデータ量削減,低消費電力,テスト品質向上などの新しい特性を与える場合,テストパターン中のドントケアビットに論理値を割り当てるX割当手法が使用される.しかし,X割当の効果が低い場合,テスト容易化設計やテストパターン生成をやり直す必要がある.本研究では,テストパターン生成前にドントケアビット数を見積もることで,X割当の効果を予測し,テスト容易化設計などのやり直しを回避する.
- 2012-11-19
著者
-
宮瀬 紘平
九州工業大学
-
温 暁青
九州工業大学
-
宮瀬 紘平
九州工業大学:jst Crest
-
梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
-
梶原 誠司
九州工業大学
-
宮瀬 絋平
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest
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