マルチサイクルBISTにおけるスキャン出力の電力低減手法(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
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概要
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論理BISTにおけるテスト時の電力消費低減が課題である.スキャン入力時の電力やキャプチャ時の電力は様々な制御手法が提案されているが,キャプチャパターンのスキャン出力時の電力制御は必ずしも容易ではなくこれまでの研究も多くない.本研究ではマルチサイクルBISTを活用したスキャン出力時の電力低減手法を提案する.スキャン出力時に一部のFF(Flip-Flop)の値を書き換えることにより,故障検出率の低下を押さえながら,スキャン出力時の電力を低減できることを示す.
- 2012-11-19
著者
-
佐藤 康夫
九州工業大学
-
宮瀬 紘平
九州工業大学
-
梶原 誠司
九州工業大学
-
宮瀬 絋平
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest
-
王 森レイ
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻
-
王 森レイ
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST
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