デュアルエッジトリガフリップフロップの設計と信号遅延検知への応用(回路設計・ハードウェアトロイ設計,VLSI設計とテスト及び一般)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
従来のエッジトリガフリップフロップは単一のクロックエッジに同期してデータ信号を取り込む.このため,エッジの近傍にノイズパルスが発生するとフリップフロップが不正な値を取り込んでしまい,同期式回路の誤動作の原因となることが問題になっている.その対策として,筆者らはクロックパルスの立ち上がりと立ち下がりの二つのエッジに同期してデータ信号を取り込み,両者の値を比較して出力を決定するデュアルエッジトリガフリップフロップを提案している.本研究では,デュアルエッジトリガフリップフロップの回路サイズの改善,低消費電力化,動作速度の向上を目的として新たに回路を設計し,その評価を行った.また,両エッジで取り込んだ値が異なる場合に警告信号を出力する提案のフリップフロップの特性を利用した信号遅延検知への応用を提案する.
- 2012-02-06
著者
関連論文
- 周期信号の自己訂正法(アナログ・ばらつき・電流テスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- D-10-12 抵抗ラダー型DACの電流テスト容易化設計(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- ADRによるバス上の多重縮退故障のマスク
- 誤り処理要素を特定可能なFFTの効果的構成法
- 劣化検知テストにおけるパス選択について(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地)
- 劣化検知テストにおけるパス選択について(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-)
- AI-1-7 フィールド高信頼化のための回路・システム機構(AI-1.デイベンダブルVLSIに向けて,依頼シンポジウム,ソサイエティ企画)
- 論理回路の動作環境とトランジスタの劣化特性について(設計/テスト/検証)
- 複数の観測トランジスタとデータサンプリングを使用したアナログ回路の診断(アナログ・ばらつき・電流テスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- オンライン故障診断可能なFFTシステムの構成法
- 時間冗長方式と巡回符号を用いたバス上の多重縮退故障のマスク
- インターネットチェックサムの2重, 3重誤り検出能力
- TCP/IPチェックサムの2重誤り検出能力について
- ローカルエリアネットワークにおけるパケット多重通信の一実験
- 論理合成組合せ回路に対するLFSRによるテスト長
- D-10-7 抵抗ラダー型DAC内MOS短絡の電流テスト容易化設計(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- D-10-11 VLSIのトランジスタ劣化特性に関する考察(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- ノイズパルスを考慮したデュアルエッジトリガフリップフロップの提案(ディペンダブル・回路・検証,VLSI設計とテスト及び一般)
- ディジタル回路の適応検査を応用したアナログ回路の故障診断(セッション5 : アナログ回路テスト, VLSI設計とテスト及び一般)
- 2重クロックパルス法の実現とばらつき耐性の評価(セッション5 : アナログ回路テスト, VLSI設計とテスト及び一般)
- クロストークを考慮したクロック信号の生成・検出法の提案(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- デュアルエッジトリガフリップフロップの設計と信号遅延検知への応用(回路設計・ハードウェアトロイ設計,VLSI設計とテスト及び一般)
- フィールドテストのための温度・電圧推定回路の試作評価(ばらつき・フィールドテスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- フィールドテストのための温度・電圧推定回路の試作評価
- デュアルエッジトリガフリップフロップの設計と信号遅延検知への応用
- 論理回路の動作環境とトランジスタの劣化特性について
- リングオシレータ利用モニタ回路によるチップ内温度・電圧の試作評価とフィールドテストへの活用検討(設計/テスト/検証)
- フィールドテストのための温度・電圧モニタ回路構成の検討(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
- フィールドテストのための温度・電圧モニタ回路構成の検討(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
- モニタ回路による製造バラツキを考慮した温度・電圧推定手法(フィールトテストと許容故障判定, VLSI設計とテスト及び一般)
- リングオシレータ利用モニタ回路によるチップ内温度・電圧の試作評価とフィールドテストへの活用検討