テスト実行時間削減のためのデータパスの強可検査性に基づくテスト容易化設計法
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概要
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本稿では,レジスタ転送レベルでのデータパスのテスト実行時間を削減するための非スキャンテスト容易化設計法を提案する.データパスのテスト生成は階層テスト生成法に基づく.階層テスト生成では,データパス中の同じ論理回路で構成される回路要素に対して,同じテストベクトル集合を生成する.提案手法では,同じテストベクトル集合を用いて,同じ論理回路で構成される複数の回路要素に対して並行テストを行うことにより,テスト実行時間を削減する.また,テスト対象の回路要素に対してパイプラインテストを行うことにより,テスト実行時間を削減する.さらに提案手法では,実動作速度でのテスト実行が可能で,完全故障検出効率を達成できる.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2003-02-14
著者
-
藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
大竹 哲史
奈良先端科学技術大学院大学,情報科学研究科
-
大竹 哲史
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科:科学技術振興機構 Crest
-
永井 慎太郎
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
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