拡張データフローグラフを用いたRTレベルデータパスの階層テスト容易化設計法
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概要
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本論文では, コントローラの機能を考慮したレジスタ転送(RT)レベルデータパスの階層テスト容易化設計法を提案する.データパスの階層テスト生成法では, 各回路要素に対してテスト生成およびテストプラン生成を行う.テストプランとは, 外部入力から回路要素の入力へテストベクトルを正当化し, その応答を外部出力へ伝搬するための制御ベクトルの時系列をいう.提案手法では, 拡張データフローグラフを用いてコントローラから制御ベクトル系列を抽出し, これを用いてテストプランを構成する.これにより, データパスへテストプランを供給するための付加回路の面積を小さくできる.提案手法はさらに, 実動作速度でのテスト実行(at-speed testing)が可能で, データパスに対して完全故障検出効率を保証できる.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2001-11-29
著者
-
藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
大竹 哲史
奈良先端科学技術大学院大学,情報科学研究科
-
大竹 哲史
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科:科学技術振興機構 Crest
-
永井 慎太郎
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
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