CMOS SRAMの書き込み時静的電源電流測定による良品ICの選別
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概要
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我々は過去にCMOS SRAMの書き込み動作時に流れる静的電源電流を測定し検査する方法を提案した。その検査法の検査入力を明らかにするために、電流測定時の書き込みデータと初期化データとの関係を調べた。さらに本検査法を論理値測定による機能検査法と組み合わせ、良品選別を行った場合の検査時間を導出したので報告する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1995-03-27
著者
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