信頼性試験・寿命予測の効率化
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概要
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新製品開発・設計のスピードアップあるいは量産段階での的確な品質保証のために, 信頼性試験・寿命予測を効率よく行う方法が求められている. 本稿では, これらの問題の解決策として, 故障・劣化の物理・化学的原理を究明して故障・劣化要素を明確にし, この要素について試験することにより寿命予測を可能にすることを提案する. また, 数・時間の点で不十分な初期データであっても, ファジィ推論によりエキスパートの知識を融合させて効率のよい寿命推定を行う方法について述べ, ワイブル乱数を用いて推論誤差の検討を行う. この結果, 初期データからの寿命推定では, ファジィ推論法は最尤法より優れていることを示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1996-11-08
著者
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