電流テストによるバイポーラ組合せ論理回路のブリッジ故障検出のための検査容易化設計法
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概要
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電源から論理回路に供給される電源電流を測定し,論理回路内に発生した故障を検出する検査法は電流テストと呼ばれている.本論文では,バイポーラ論理回路内の論理ゲートの入出力信号線間に発生した2線間の単一ブリッジ故障を,電流テストにより検出するための検査容易化設計法を提案している.またISCAS-85ベンチマーク回路をTTLゲートで実現した回路とECLゲートで実現した回路に対し,その検査容易化設計法を適用している.そしてその手法を用いることで,電源電流測定用端子を追加する必要があるものの,従来の外部出力信号線の論理値測定による検査法で検出が困難なブリッジ故障に対し,CMOS回路と同様に,検査入力生成が簡単化され,更に99%以上の高い検出率で検出可能となることを示している.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1996-12-25
著者
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