樹枝状に分割可能な組合せ回路の故障検出入力生成法
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
回路モジュール内に分岐再収れんを含んでもよいが,回路モジュール分割により樹枝状回路となる組合せ回路において,回路モジュールごとに求めた故障検出入力から回路全体の単一縮退故障の検出入力を求める方法について述べる.本論文では,(1)本手法により回路モジュールごとに求めた故障検出入力から回路全体の故障検出入力を求めることができること,また(2)回路はすでに分割されていると考え,故障検出入力生成時間のみを考慮すると,向路モジュールに分割せずに故障検出入力を求めるよりも,本手法の方が高速にかつより少ない故障検出入力を求めることができることを示す.
- 一般社団法人情報処理学会の論文
- 1988-06-15
著者
関連論文
- D-10-8 スキャンツリー内のフリップフロップの配線法について(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般講演)
- C-12-12 時変電源電圧駆動ダイナミックCMOS時計回路の消費電力評価(C-12.集積回路B(ディジタル),エレクトロニクス2)
- C-12-3 電源電流によるZ80ピン間ブリッジ故障の実時間テスト(C-12.集積回路A(設計・テスト・実装技術),エレクトロニクス2)
- ばらつきを有するICで構成したTTL回路の電源電流による統計的断線故障検出法
- レイアウト情報を用いた故障候補エリアの抽出(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- PSpice による三相HB形ステッピングモータの駆動特性解析
- CMOS論理回路の発振を生じるICピン短絡故障検出回路(フォールトトレランス)
- CMOS論理ICの交流電界印加時の電源電流測定によるピン浮き検出法
- 下限満足度制約をもつファジィ多目的計画問題の近似的満足解導出法 (ファジィ理論とその応用論文小特集)
- 凸ファジ-決定によるアナログ回路の回路定数最適化法 (アナログ集積回路の設計と診断論文小特集)
- 樹枝状に分割可能な組合せ回路の故障検出入力生成法
- TTL-NANDゲートを用いた無安定マルチバイブレータの発振モードとその成立条件
- TTL-NANDゲ-トを用いた無安定マルチバイブレ-タの動作モ-ド解析
- ECLゲートを用いた無安定マルチバイブレータの特性
- 無安定マルチバイブレ-タの起動回路とその効果(技術談話室)
- TTL-NAND無安定マルチバイブレ-タの出力電圧波形の改善(技術談話室)
- パーソナルコンピュータによる工作機器の簡易故障診断システム
- 断熱的ダイナミックCMOS論理回路用電源回路
- 断熱的ダイナミックCMOS論理回路用電源回路
- 断熱的ダイナミックCMOS論理回路用電源回路
- 電流テストによるバイポーラ組合せ論理回路のブリッジ故障検出のための検査容易化設計法
- 電流テストによる論理回路のブリッジ故障検出のための検査容易化設計法
- 電動義手の柔らかい協調動作制御の一方式(2部 上肢と解析)
- 電子計算機による多重3値論理関数の簡単化
- 準安定状態をもつ順序論理回路とその論理解析
- 準安定状態をもつ順序回路の合成
- 3個のNAND/NOR回路を基本回路とする3相マルチバイブレ-タ
- 三相マルチバイブレータ(その2)
- 三相マルチバイブレーター(その1)
- トランジスタ双安定MVのトリガに関する研究 その2 転位コンデンサのあるセット・リセット形の場合
- トランジスタ双安定MVのトリガに関する研究 その1.転位コンデンサの無いセット・リセット形の場合
- CMOSマイクロコンピュータ回路の電源電流によるブリッジ故障検出法
- 電流テストによるバイポーラ論理回路のブリッジ故障検出法
- プリント回路板上の TTL 組み合わせ回路の電源電流による断線故障検出法
- 論理ゲートの電源電流値のばらつきを考慮する電流テスト法
- TTL組合せ回路の電流テストのための検査入力生成法
- CMOS SRAM ICの書込み時静的電源電流による論理故障検出法 (テストと設計検証論文特集)
- CMOS SRAMの書き込み時静的電源電流測定による良品ICの選別
- CMOS SRAMの書き込み時静的電源電流測定による故障検出法
- レイアウト情報を用いた故障候補エリアの抽出(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- レイアウト情報を用いた故障候補エリアの抽出(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- レイアウト情報を用いた故障候補エリアの抽出(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 状態集合分割を用いる論理シミュレーションによる順序回路のテスト生成(VLSIの設計/検証/テスト及び一般テスト)
- 状態集合分割を用いる論理シミュレーションによる順序回路のテスト生成(VLSIの設計/検証/テスト及び一般 テスト)(デザインガイア2003 -VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 状態集合分割を用いる論理シミュレーションによる順序回路のテスト生成(VLSIの設計/検証/テスト及び一般 テスト)(デザインガイア2003 -VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 状態集合分割を用いる論理シミュレーションによる順序回路のテスト生成(VLSIの設計/検証/テスト及び一般 テスト)(デザインガイア2003 -VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 状態集合分割を用いる論理シミュレーションによる順序回路のテスト生成
- TTL組合せ論理回路の故障検出のための電源電流標準パタ-ン候補導出法
- 到達不能状態に基づく順序回路の冗長信号線の同時除去法
- 到達不能状態に基づく順序回路の冗長信号線の同時除去法
- 処理フローに基づくシーケンス制御用マイコンの機能検査法
- TTL組合せ論理回路の電流計測テストのための検査入力生成
- ファジィ理論を応用したアナログ電子回路の故障判定法
- 出力ゲートの電源電流による故障検出のための負荷抵抗電流値決定法の改良
- TTL組合せ論理回路の電源電流による故障検出法