谷口 謙二郎 | 九州工業大学情報工学部電子情報工学科

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概要

• 同名の論文著者
• 九州工業大学情報工学部電子情報工学科の論文著者

関連著者

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科

• 谷口 謙二郎

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科

• 梶原 誠司

  九州工業大学:jst Crest

• 谷口 謙二郎

  九州工業大学大学院情報工学研究科

• 梶原 誠司

  九州工業大学

• 宮瀬 紘平

  九州工業大学

• 宮瀬 紘平

  九州工業大学:jst Crest

• 温 暁青

  九州工業大学

• ポメランツ イリス

  School of Electrical and Computer Engineering, Purdue University

• レディー スダカー

  Electrical and Computer Engineering Department, University of Iowa

• レディー スダカー

  Electrical And Computer Engineering Department University Of Iowa

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化システムセンター

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ

• ポメランツ イリス

  School Of Electrical And Computer Engineering Purdue University

• Kajihara S

  Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn

• 宮瀬 紘平

  科学技術振興機構

• 宮瀬 絋平

  九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest

• レディ スダーカ

  Electrical and Computer Engineering Department, University of Iowa

• 温 暁青

  九州工業大学:jst Crest

• レディ スダーカ

  アイオワ大学

• 藤井 秀雄

  九州工業大学大学院情報工学研究科

• イリス ポメランツ

  School of Electrical and Computer Engineering, Purdue University

• スカーダ レディ

  Electrical and Computer Engineering Department, University of Iowa

• イリス ポメランツ

  アイオワ大学電気コンピュータ学科

• イリス ポメランツ

  School Of Electrical And Computer Engineering Purdue University

• スカーダ レディ

  Electrical And Computer Engineering Department University Of Iowa

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著作論文

• 順序回路用故障シミュレーションにおけるコンパイル方式の適用と効果について(セッション2 : 故障シミュレーションと故障診断, VLSI設計とテスト及び一般)
• ブロードサイドテストにおけるN回検出用テストパターンに対するX判定(デザインガアイ2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
• ブロードサイドテストにおけるN回検出用テストパターンに対するX判定(VLSIのテストI,デザインガイア2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
• ブロードサイドテストにおけるN回検出用テストパターンに対するX判定(VLSIのテストI,デザインガイア2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
• 符号化技術を用いた多重スキャン設計のテストデータ量削減について
• 符号化技術を用いた多重スキャン設計のテストデータ量削減について
• ドントケア判定と符号化によるテストデータ圧縮について
• ドントケア判定と符号化によるテストデータ圧縮について
• ドントケア判定と符号化によるテストデータ圧縮について

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