GIRARD Patrick | LIRMM

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概要

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関連著者

• GIRARD Patrick

  LIRMM

• MIYASE Kohei

  Kyushu Institute of Technology

• WEN Xiaoqing

  Kyushu Institute of Technology

• FURUKAWA Hiroshi

  Kyushu Institute of Technology

• YAMATO Yuta

  Kyushu Institute of Technology

• KAJIHARA Seiji

  Kyushu Institute of Technology

• WANG Laung-Terng

  SynTest

• TEHRANIPOOR Mohammad

  University of Connecticut

• 梶原 誠司

  九州工業大学:jst Crest

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化システムセンター

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ

• Kajihara S

  Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn

• Kajihara Seiji

  Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology

• 宮瀬 紘平

  九州工業大学

• 温 暁青

  九州工業大学

• 大和 勇太

  九州工業大学大学院情報工学研究院

• 宮瀬 紘平

  九州工業大学:jst Crest

• Miyase K

  Kyushu Institute Of Technology

• Kajihara Seiji

  Kyushu Insteitute Of Technology

• Yamashita Yoshiyuki

  Densotechno Co.

• Miyase Kohei

  Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology

• Xiaoqing Wen

  Department Of Information Engineering Mining College Akita University

• 内之段 裕太

  九州工業大学

• 榎元 和成

  九州工業大学

• 大和 勇太

  奈良先端科学技術大学院大学

• Wu Fangmei

  LIRMM-University of Montpellier II/CNRS

• Dilillo Luigi

  LIRMM-University of Montpellier II/CNRS

• Bosio Alberto

  LIRMM-University of Montpellier II/CNRS

• Virazel Arnaud

  LIRMM-University of Montpellier II/CNRS

• Girard Patrick

  Lirmm-university Of Montpellier Ii/cnrs

• Kajihara Seiji

  Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn

• 梶原 誠司

  九州工業大学

• 宮瀬 絋平

  九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest

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著作論文

• High Launch Switching Activity Reduction in At-Speed Scan Testing Using CTX: A Clock-Gating-Based Test Relaxation and X-Filling Scheme
• High Launch Switching Activity Reduction in At-Speed Scan Testing Using CTX : A Clock-Gating-Based Test Relaxation and X-Filling Scheme
• テストベクトル変換手法を用いた低消費電力LOS実速度テスト(設計/テスト/検証)

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