樋上 喜信 | 大阪大学 大学院工学研究科

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概要

• 同名の論文著者
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関連著者

• 樋上 喜信

  大阪大学 大学院工学研究科

• 樹下 行三

  大阪学院大 情報

• 樹下 行三

  大阪大学 大学院工学研究科

• 前田 敏行

  大阪大学 大学院工学研究科

• 前田 敏行

  大阪大学大学院工学研究科応用物理学専攻

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科

• 梶原 誠司

  九州工業大学:jst Crest

• 樋上 喜信

  大阪大学工学部応用物理学科

• 梶原 誠司

  大阪大学工学部応用物理学科

• 樹下 行三

  大阪大学工学部応用物理学科

• 樹下 行三

  大阪大学工学部

• 梶原 誠司

  九州工業大学

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著作論文

• 順序回路のためのIDDQテスト生成手法について
• IDDQテストのための順序回路のブリッジ故障に対するテスト生成
• テスト系列短縮のための部分的並列なスキャンチェーンの構成法
• 状態遷移を用いた短縮スキャンシフトによる順序回路のテスト

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