細川 利典 | 日本大学生産工学部数理情報工学科半導体理工学研究センター

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概要

• 同名の論文著者
• 日本大学生産工学部数理情報工学科半導体理工学研究センターの論文著者

関連著者

• 村岡 道明

  半導体理工学研究センター

• 細川 利典

  日本大学生産工学部数理情報工学科半導体理工学研究センター

• 村岡 道明

  松下電器産業株式会社 半導体研究センター

• 細川 利典

  松下電器産業株式会社半導体開発本部

• 本原 章

  松下電器産業(株)

• 本原 章

  松下電器産業株式会社 半導体研究センター

• 高井 裕司

  松下電器産業株式会社 半導体研究センター

• 竹岡 貞巳

  松下電器産業株式会社半導体社開発本部システムLSI技術統括部

• 松本 道弘

  松下電器産業株式会社 半導体研究センター

• 太田 光保

  松下電器産業株式会社半導体開発本部

• 竹岡 貞巳

  松下電器産業株式会社 半導体開発本部

• 藤原 秀雄

  奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科

• 細川 利典

  日本大学生産工学部

• 新 誠一

  東京大学工学部

• 〆木 泰治

  松下電器産業株式会社

• 前川 英嗣

  松下電器中央研究所

• 伊達 博

  株式会社システム・ジェイディー

• 前川 英嗣

  松下電器産業(株)中央研究所

• 新 誠一

  東京大学

• 萱島 一弘

  松下電器産業(株)中央研究所

• 伊達 博

  半導体理工学研究センター

• 川口 謙一

  松下電器産業株式会社 半導体開発本部

• 〆木 泰治

  松下電器産業株式会社中央研究所

• 〆木 泰治

  松下電器産業(株)

• 宮崎 政英

  半導体理工学研究センター

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著作論文

• 共分散行列を用いたステートマシンの状態探索手法
• Full Top Down Design for Testability Using Multi-Level Partial Scan Design
• 動作機能図入力システム環境でのテスト容易化
• SoCのテスト実行時間最短化を目標としたコアのDFT選択手法(VLSI設計とテスト)
• テスト容易化設計のためのRTL回路分割手法

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