真田 克 | Necエレクトロニクス 基盤技術開発事業本部

スポンサーリンク

概要

• 同名の論文著者
• Necエレクトロニクス 基盤技術開発事業本部の論文著者

関連著者

• 真田 克

  Necエレクトロニクス株式会社基盤技術開発事業本部テスト評価技術開発事業部

• 真田 克

  Necエレクトロニクス 基盤技術開発事業本部

• 植平 和生

  NECエレクトロニクス(株)プロセス開発事業部

• 真田 克

  Necエレクトロニクス

• 真田 克

  NEC 評価技術開発本部

• 真田 克

  NEC評価技術開発本部

• 植平 和生

  NEC 第三システムLSI事業部・製品技術部

• 布施 英悟

  NEC LSI製造本部・第3製造部

• 温 暁青

  九州工業大学

• 梶原 誠司

  九州工業大学:jst Crest

• 豊田 直哉

  九州工業大学情報工学研究科

• 梶原 誠司

  九州工業大学

もっと見る 閉じる

著作論文

• 故障診断のための観測性の定量化について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
• 3.3 I_を用いたセル内回路の故障診断技術(セッション3「故障解析・デバイス(2)」)(第16回信頼性シンポジウム発表報文集)
• 3-3 I_ を用いたセル内回路の故障診断技術
• SC-9-7 I_利用による配線短絡個所の特定方式
• C-12-2 SPICEを用いたらI_異常として検出される貫通電流通路の検証
• TD-2-4 テスト容易化設計の現状と課題 : 故障診断技術
• I_故障診断方式を用いたCMOS製造工程における欠陥箇所特定とそのモード分類
• I_故障診断方式を用いたCMOS製造工程における欠陥箇所特定とそのモード分類
• C-12-6 OBICを用いたLSI内部論理の特定のためのレイアウト構造

スポンサーリンク