3-3 I_<DDQ> を用いたセル内回路の故障診断技術

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概要

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• I_<DDQ>を用いた回路セル内の故障診断のための2つの診断方式を提案する。1つはTrの短絡対の特定に関してであり、Tr構造から形成される6個の対に対して、Trに印加される論理を用いて候補を特定する方式である。もう1つは回路セル内の配線における短絡対候補の特定である。Trを論理素子と定義しSPICEとして扱うことで回路セル内の論理シミュレーションが可能になり、各配線の論理情報を取り出すことができる。以上の論理情報とレイアウト情報を用いることで短絡対候補の絞り込みに適用される。

• 2003-10-24

著者

• 真田 克

  Necエレクトロニクス

• 真田 克

  Necエレクトロニクス株式会社基盤技術開発事業本部テスト評価技術開発事業部

• 真田 克

  Necエレクトロニクス 基盤技術開発事業本部

• 植平 和生

  NECエレクトロニクス(株)プロセス開発事業部

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