1.3レイアウト情報を用いた,I_<DDQ>利用による配線短絡対の特定(セッション1「ソフトウェア,故障解析1」)(日本信頼性学会第11回研究発表会報告)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 日本信頼性学会の論文
- 2003-07-25
著者
関連論文
- 1B-3 RIEを用いた故障解析の為の加工技術 : 多層配線構造を有するLSIの解析手法
- 故障診断のための観測性の定量化について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
- 故障診断のための観測性の定量化について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
- 2-3 セル内故障個所の特定(セッション2 試験・LSIの故障解析-1)(日本信頼性学会第17回秋季信頼性シンポジウム報告)
- 「品質談話会について」LSI品質の保証への提案(LSI品質の保証のための提案)
- 1.3レイアウト情報を用いた,I_利用による配線短絡対の特定(セッション1「ソフトウェア,故障解析1」)(日本信頼性学会第11回研究発表会報告)
- I_DDQを用いたCMOS-LSIのテスティング・故障解析・故障診断
- 第18回LSIテステイングシンポジウム/1998報告
- LSIの故障解析の為の加工技術-その3-
- LSIの故障解析の為の加工技術-その2-
- LSIの故障解析の為の加工技術-その1-
- LSIテステイングシンポジウム/1996報告
- ハードウエア手法とソフトウエア手法を利用したIDDQテスト
- ハードウエア手法とソフトウエア手法を利用したIDDQテスト
- 3.3 I_を用いたセル内回路の故障診断技術(セッション3「故障解析・デバイス(2)」)(第16回信頼性シンポジウム発表報文集)
- 3-3 I_ を用いたセル内回路の故障診断技術
- 2-3 セル内故障箇所の特定 : スイッチングレベルシミュレーションを用いた診断(セッション2 試験・LSIの故障解析(1),第17回秋季信頼性シンポジウム)
- 2-5 レーザプロービングパッドを用いたLSI内部信号の検出方式(日本信頼性学会第12回研究発表会発表報文集)
- 1.3 レイアウト情報を用いた,I_利用による配線短絡対の特定(セッション1「ソフトウェア・故障解析1」)
- レーザプロービングパッドの作り込みによるLSI内部動作解析
- レーザプロービングパッドの作り込みによるLSI内部動作解析