2-3 セル内故障箇所の特定 : スイッチングレベルシミュレーションを用いた診断(セッション2 試験・LSIの故障解析(1),第17回秋季信頼性シンポジウム)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
LSIを構成する基本的論理であるセルの故障診断方式を開発したので報告する。診断対象とするセルは組合せ回路である。診断はレイアウト情報を用いてI_<DDQ>故障が発生する可能性のある箇所を故障候補として抽出し、その後、これらの候補を回路に埋め込むことでスイッチングレベルシミュレーションを実施する。そして出力された論理と実際の出力論理値と一致する候補を確度の高い故障候補として特定する方式である。
- 日本信頼性学会の論文
- 2004-11-19
著者
関連論文
- 1B-3 RIEを用いた故障解析の為の加工技術 : 多層配線構造を有するLSIの解析手法
- 故障診断のための観測性の定量化について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
- 故障診断のための観測性の定量化について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
- 2-3 セル内故障個所の特定(セッション2 試験・LSIの故障解析-1)(日本信頼性学会第17回秋季信頼性シンポジウム報告)
- 「品質談話会について」LSI品質の保証への提案(LSI品質の保証のための提案)
- 1.3レイアウト情報を用いた,I_利用による配線短絡対の特定(セッション1「ソフトウェア,故障解析1」)(日本信頼性学会第11回研究発表会報告)
- I_DDQを用いたCMOS-LSIのテスティング・故障解析・故障診断
- 第18回LSIテステイングシンポジウム/1998報告
- LSIの故障解析の為の加工技術-その3-
- LSIの故障解析の為の加工技術-その2-
- LSIの故障解析の為の加工技術-その1-
- LSIテステイングシンポジウム/1996報告
- ハードウエア手法とソフトウエア手法を利用したIDDQテスト
- ハードウエア手法とソフトウエア手法を利用したIDDQテスト
- 3.3 I_を用いたセル内回路の故障診断技術(セッション3「故障解析・デバイス(2)」)(第16回信頼性シンポジウム発表報文集)
- 3-3 I_ を用いたセル内回路の故障診断技術
- 2-3 セル内故障箇所の特定 : スイッチングレベルシミュレーションを用いた診断(セッション2 試験・LSIの故障解析(1),第17回秋季信頼性シンポジウム)
- 2-5 レーザプロービングパッドを用いたLSI内部信号の検出方式(日本信頼性学会第12回研究発表会発表報文集)
- 1.3 レイアウト情報を用いた,I_利用による配線短絡対の特定(セッション1「ソフトウェア・故障解析1」)
- レーザプロービングパッドの作り込みによるLSI内部動作解析
- レーザプロービングパッドの作り込みによるLSI内部動作解析