植平 和生 | NECエレクトロニクス(株)プロセス開発事業部

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概要

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• 同名の論文著者
• NECエレクトロニクス(株)プロセス開発事業部の論文著者

関連著者

• 真田 克

  Necエレクトロニクス株式会社基盤技術開発事業本部テスト評価技術開発事業部

• 真田 克

  Necエレクトロニクス 基盤技術開発事業本部

• 植平 和生

  NECエレクトロニクス(株)プロセス開発事業部

• 真田 克

  Necエレクトロニクス

• 真田 克

  NEC 評価技術開発本部

• 植平 和生

  NEC 第三システムLSI事業部・製品技術部

• 布施 英悟

  NEC LSI製造本部・第3製造部

著作論文

• 3.3 I_を用いたセル内回路の故障診断技術(セッション3「故障解析・デバイス(2)」)(第16回信頼性シンポジウム発表報文集)
• 3-3 I_ を用いたセル内回路の故障診断技術
• I_故障診断方式を用いたCMOS製造工程における欠陥箇所特定とそのモード分類
• I_故障診断方式を用いたCMOS製造工程における欠陥箇所特定とそのモード分類

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