真田 克 | NEC評価技術開発本部

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概要

• 同名の論文著者
• NEC評価技術開発本部の論文著者

関連著者

• 真田 克

  Necエレクトロニクス株式会社基盤技術開発事業本部テスト評価技術開発事業部

• 真田 克

  Necエレクトロニクス 基盤技術開発事業本部

• 真田 克

  NEC評価技術開発本部

著作論文

• C-12-2 SPICEを用いたらI_異常として検出される貫通電流通路の検証
• TD-2-4 テスト容易化設計の現状と課題 : 故障診断技術
• C-12-6 OBICを用いたLSI内部論理の特定のためのレイアウト構造

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