Anomalous random telegraph signal extractions from a very large number of n-metal oxide semiconductor field-effect transistors using test element groups with 0.47Hz-3.0MHZ sampling frequency (Special issue: Solid state devices and materials)
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概要
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- Published by the Japan Society of Applied Physics through the Institute of Pure and Applied Physicsの論文
著者
-
寺本 章伸
東北大学未来科学技術共同研究センター
-
Teramoto A
New Industry Creation Hatchery Center Tohoku University
-
Teramoto Akinobu
Tohoku Univ. Sendai Jpn
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