画素ソースフォロワ相当の埋め込み・表面チャネルトランジスタのランダム・テレグラフ・ノイズ統計的解析(固体撮像技術および一般〜IEDM, SPIE EI, ISSCC特集〜)
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概要
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大規模アレイテスト回路を用いた画素ソースフォロワ(SF)相当の埋め込み・表面チャネルトランジスタの静特性とランダム・テレグラフ・ノイズ(RTN)の統計的解析結果を報告する.様々なドレイン電流,基板バイアス電圧を変化させた測定データに基づき,RTNの統計的な分布,ノイズ振幅としきい値やサブスレッショルドスイングとの相関について解析結果をまとめ,埋め込みチャネルを用いた画素SFのノイズ低減方針を議論する.
- 2013-03-15
著者
-
寺本 章伸
東北大学未来科学技術共同研究センター
-
須川 成利
東北大学大学院工学研究科
-
黒田 理人
東北大学大学院工学研究科技術社会システム専攻
-
黒田 理人
東北大学大学院工学研究科
-
栃木 靖久
東北大学大学院工学研究科
-
米澤 彰浩
東北大学大学院工学研究科
-
須川 成利
東北大学大学院工学研究科:東北大学未来科学技術共同研究センター
-
李 宗霖
東北大学大学院工学研究科
-
寺本 章伸
東北大学未来科学共同センター
-
須川 成利
東北大学大学院 工学研究科
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