稲葉 聡 | 東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
スポンサーリンク
概要
関連著者
-
稲葉 聡
東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
-
平本 俊郎
東京大学生産技術研究所
-
竹内 潔
MIRAI-Selete
-
石丸 一成
(株)東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
-
青木 伸俊
東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
-
稲葉 聡
MIRAI-Selete
-
稲葉 聡
(株)東芝セミコンダクター社SoC研究開発センター
-
石内 秀美
(株)東芝セミコンダクター社SoC研究開発センター
-
稲葉 聡
(株)東芝セミコンダクター社
-
岡野 王俊
(株)東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
-
青木 伸俊
(株)東芝研究開発センターデバイスプロセス開発センター
-
石内 秀美
東芝 セミコンダクター社 半導体研究開発センター
-
西田 彰男
MIRAI-Selete
-
蒲原 史朗
MIRAI-Selete
-
青木 伸俊
マイクロエレクトロニクス研
-
最上 徹
MIRAI-Selete
-
水谷 朋子
東京大学生産技術研究所
-
KUMAR Anil
東京大学生産技術研究所
-
青木 伸俊
(株)東芝セミコンダクター社SoC研究開発センター
-
青木 伸俊
(株)東芝soc開発センター
-
川崎 博久
(株)東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
-
岡野 王俊
(株)東芝 セミコンダクター社 システムLSI開発センター
-
平本 俊郎
東京大学生産技術研究所:mirai-selete
-
豊島 義明
東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
-
石内 秀美
(株)東芝
-
須黒 恭一
東芝 セミコンダクター社 プロセス技術推進センター
-
竹内 潔
NECエレクトロニクス株式会社LSI基礎開発研究所
-
石丸 一成
(株)東芝セミコンダクター社SoC研究開発センター
-
西田 彰男
(株)半導体先端技術テクノロジーズ
-
石丸 一成
(株)東芝セミコンダクター社
-
泉田 貴士
(株)東芝セミコンダクター社SoC研究開発センター
-
最上 徹
Necシリコンシステム研究所
-
金村 貴永
東芝 セミコンダクター社 半導体研究開発センター
-
金村 貴永
(株)東芝 セミコンダクター社SoC研究開発センター
-
最上 徹
日本電気(株) マイクロエレクトロニクス研究所
-
寺田 和夫
広島市大学院情報科学研究科
-
近藤 正樹
(株)東芝 セミコンダクター社soc研究開発センター
-
宮野 清孝
(株)東芝 セミコンダクター社プロセス技術推進センター
-
宮野 清孝
東芝マイクロエレクトロニクス技術研究所
-
金子 明生
(株)東芝 セミコンダクター社プロセス技術推進センター
-
綱島 祥隆
東芝 セミコンダクター社 プロセス技術推進センター
-
藤原 実
(株)東芝セミコンダクター社SoC研究開発センター
-
安達 甘奈
(株)東芝セミコンダクター社SoC研究開発センター
-
須黒 恭一
(株)東芝 セミコンダクター社 システムLSI開発センター
-
藤原 実
株式会社東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
-
外園 明
株式会社東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
-
須黒 恭一
(株)東芝
-
窪田 壮男
株式会社半導体先端テクノロジーズ
-
宮野 清孝
(株)東芝セミコンダクター社プロセス技術推進センター
-
角村 貴昭
(株)半導体先端技術テクノロジーズ
-
角村 貴昭
MIRAI-Selete
-
佐々木 貴彦
(株)東芝セミコンダクター社SoC研究開発センター
-
大塚 伸朗
(株)東芝セミコンダクター社SoC研究開発センター
-
伊藤 早苗
(株)半導体先端テクノロジーズ第二研究部
-
川中 繁
セミコンダクター社半導体研究開発センター株式会社東芝
-
大村 光弘
東芝 セミコンダクター社 プロセス技術推進センター
-
佐々木 貴彦
株式会社東芝
-
水島 一郎
東芝 セミコンダクター社 プロセス技術推進センター
-
綱島 祥隆
(株)東芝 セミコンダクター社
-
伊藤 早苗
株式会社東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
-
川崎 博久
(株)東芝 セミコンダクター社SoC研究開発センター
-
八木下 淳史
(株)東芝 セミコンダクター社プロセス技術推進センター
-
江口 和弘
(株)東芝 セミコンダクター社プロセス技術推進センター
-
矢橋 勝典
東芝 セミコンダクター社 プロセス技術推進センター
-
木下 敦寛
東芝研究開発センターlsi基盤技術ラボラトリー
-
須藤 裕之
(株)東芝セミコンダクター社soc研究開発センター
-
大内 和也
(株)東芝セミコンダクター社SoC研究開発センター
-
外園 明
(株)東芝セミコンダクター社SoC研究開発センター
-
清水 敬
(株)東芝セミコンダクター社プロセス技術推進センター
-
森 伸二
(株)東芝セミコンダクター社プロセス技術推進センター
-
小熊 英樹
(株)東芝セミコンダクター社プロセス技術推進センター
-
高柳 万里子
(株)東芝セミコンダクター社SoC研究開発センター
-
豊島 義明
(株)東芝 セミコンダクター社SoC研究開発センター
-
井谷 孝治
(株)東芝 セミコンダクター社 プロセス技術推進センター
-
寺田 和夫
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
松下 貴哉
(株)東芝 セミコンダクター社プロセス技術推進センター
-
大内 和也
SoC研究開発センター
-
清水 敬
プロセス技術推進センター
-
森 伸二
プロセス技術推進センター
-
飯沼 俊彦
株式会社東芝 セミコンダクター社 プロセス技術推進センター
-
馬越 俊幸
(株)東芝セミコンダクター社プロセス技術推進センター
-
水島 一郎
株式会社東芝セミコンダクター社 プロセス技術推進センター
-
木下 敦寛
東芝研究開発センター
-
水島 一郎
東芝セミコンダクター社プロセス技術推進センター
-
後藤 正和
筑波大学電子・物理工学専攻
-
安武 信昭
(株)東芝セミコンダクター社SoC研究開発センター
-
小島 健嗣
(株)東芝セミコンダクター社SoC研究開発センター
-
渡辺 健
(株)東芝セミコンダクター社SoC研究開発センター
-
諸岡 哲
(株)東芝セミコンダクター社SoC研究開発センター
-
水野 央之
(株)東芝セミコンダクター社プロセス技術推進センター
-
馬越 俊之
(株)東芝セミコンダクター社プロセス技術推進センター
-
佐々木 俊之
(株)東芝セミコンダクター社プロセス技術推進センター
-
大村 光弘
(株)東芝セミコンダクター社プロセス技術推進センター
-
山田 浩玲
(株)東芝セミコンダクター社プロセス技術推進センター
-
冨田 寛
(株)東芝セミコンダクター社プロセス技術推進センター
-
松下 大介
(株)東芝研究開発センター
-
村岡 浩一
(株)東芝研究開発センター
-
松尾 浩司
(株)東芝セミコンダクタ社プロセス技術開発センター
-
平本 俊郎
東大
-
川澄 篤
株式会社東芝
-
川澄 篤
東芝セミコンダクター社
-
冨田 寛
(株)東芝セミコンダクター社
-
後藤 正和
セミコンダクター社半導体研究開発センター株式会社東芝
-
後藤 正和
徳島大学外科
-
安武 信昭
(株)東芝 セミコンダクター社 半導体研究開発センター
-
辻井 秀二
株式会社東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
-
川中 繁
株式会社東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
-
豊島 義明
株式会社東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
-
石田 達也
(株)東芝セミコンダクター社SoC研究開発センター
-
豊島 義明
東芝セミコンダクター社 システムLSI開発センター
-
小島 健嗣
東芝セミコンダクター社システムLSI事業部
-
山岡 雅直
日立製作所・中央研究所
-
諸岡 哲
半導体先端テクノロジーズ(selete)
-
松下 大介
東芝研究開発センターlsi基盤技術ラボラトリー
-
村岡 浩一
東芝研究開発センターlsi基盤技術ラボラトリー
-
村岡 浩一
(株)東芝 研究開発センターlsi基盤技術ラボラトリー
-
小島 健嗣
(株)東芝セミコンダクター社
-
三本杉 安弘
(株)富士通研究所
-
飯沼 俊彦
株式会社 東芝 セミコンダクター社 プロセス技術推進センター
-
水島 一郎
(株)東芝 研究開発センター
-
遠田 利之
株式会社東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
-
金村 貴永
半導体研究開発センター
-
泉田 貴士
半導体研究開発センター
-
青木 伸俊
半導体研究開発センター
-
近藤 正樹
半導体研究開発センター
-
伊藤 早苗
半導体研究開発センター
-
遠田 利之
半導体研究開発センター
-
岡野 王俊
半導体研究開発センター
-
川崎 博久
半導体研究開発センター
-
八木下 淳史
プロセス技術推進センター
-
金子 明生
プロセス技術推進センター
-
稲葉 聡
半導体研究開発センター
-
中村 光利
半導体研究開発センター
-
石丸 一成
半導体研究開発センター
-
須黒 恭一
プロセス技術推進センター
-
江口 和弘
プロセス技術推進センター
-
石内 秀美
半導体研究開発センター
-
伊藤 早苗
(株)東芝 セミコンダクター社SoC研究開発センター
-
小野 高稔
(株)東芝 セミコンダクター社プロセス技術推進センター
-
矢橋 勝典
(株)東芝 セミコンダクター社プロセス技術推進センター
-
岩出 健次
(株)東芝 セミコンダクター社プロセス技術推進センター
-
窪田 壮男
(株)東芝 セミコンダクター社プロセス技術推進センター
-
犬宮 誠治
(株)東芝セミコンダクター社 プロセス技術開発センター
-
中村 光利
半導体研究開発センター:株式会社東芝
-
後藤 正和
東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
-
川中 繁
東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
-
犬宮 誠治
東芝セミコンダクター社プロセス技術推進センター
-
楠 直樹
東芝セミコンダクター社システムLSI事業部
-
齋藤 真澄
東芝研究開発センター
-
辰村 光介
東芝研究開発センター
-
金子 明生
東芝 セミコンダクター社 プロセス技術推進センター
-
八木下 淳史
東芝 セミコンダクター社 プロセス技術推進センター
-
窪田 壮男
東芝 セミコンダクター社 プロセス技術推進センター
-
大村 光広
東芝 セミコンダクター社 プロセス技術推進センター
-
松尾 浩司
東芝 セミコンダクター社 プロセス技術推進センター
-
岡野 王俊
東芝 セミコンダクター社 半導体研究開発センター
-
川崎 博久
東芝 セミコンダクター社 半導体研究開発センター
-
泉田 貴士
東芝 セミコンダクター社 半導体研究開発センター
-
青木 伸俊
東芝 セミコンダクター社 半導体研究開発センター
-
古賀 淳二
東芝研究開発センターLSI基盤技術ラボラトリー
-
稲葉 聡
東芝 セミコンダクター社 半導体研究開発センター
-
石丸 一成
東芝 セミコンダクター社 半導体研究開発センター
-
豊島 義明
東芝 セミコンダクター社 半導体研究開発センター
-
江口 和弘
東芝 セミコンダクター社 プロセス技術推進センター
-
野田 研二
NSCore
-
三本杉 安弘
富士通研究所
-
竹内 潔
日本電気システムデバイス研究所
-
川崎 博久
東芝アメリカ電子部品社
-
八木下 淳史
東芝アメリカ電子部品社
-
石丸 一成
東芝アメリカ電子部品社
-
犬宮 誠治
東芝
-
辰村 光介
研究開発センターLSI基盤技術ラボラトリー株式会社東芝
-
渡辺 由美
(株)東芝 セミコンダクター社プロセス技術推進センター
-
馬越 俊幸
(株)東芝 セミコンダクター社プロセス技術推進センター
-
福井 大伸
(株)東芝 セミコンダクター社SoC研究開発センター
-
松田 聡
(株)東芝 セミコンダクター社 システムLSI開発センター
-
村越 篤
(株)東芝 セミコンダクター社 プロセス技術推進センター
-
飯沼 俊彦
(株)東芝 セミコンダクター社 プロセス技術推進センター
-
工藤 知靖
(株)東芝 セミコンダクター社 プロセス技術推進センター
-
柴田 英紀
(株)東芝 セミコンダクター社 プロセス技術推進センター
-
谷口 修一
(株)東芝 セミコンダクター社 プロセス技術推進センター
-
Matsushita T.
(株)東芝 セミコンダクター社 プロセス技術推進センター
-
東 篤志
(株)東芝 セミコンダクター社 システムLSI開発センター
-
親松 尚人
(株)東芝 セミコンダクター社 プロセス技術推進センター
-
勝又 康弘
(株)東芝 セミコンダクター社 システムLSI開発センター
-
松田 聡
(株)東芝セミコンダクター社システムlsi第一事業部システムlsiデバイス技術開発部
-
東 篤志
株式会社東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
-
青木 伸俊
株式会社東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
-
谷口 修一
株式会社東芝 セミコンダクター社 プロセス技術推進センター
-
福井 大伸
東芝セミコンダクター社システムLSI事業部
-
東 篤志
東芝セミコンダクター社
-
柴田 英紀
(株)東芝 Ulsi研究所
-
馬越 俊幸
(株)東芝 Ulsi研究所
-
勝又 康弘
東芝セミコンダクター社
-
更屋 拓哉
東京大学生産技術研究所
-
木下 敦寛
東芝 研究開発センターLSI基盤技術ラボラトリー
-
古賀 淳二
東芝 研究開発センターLSI基盤技術ラボラトリー
-
東 篤志
東芝
-
古賀 淳二
東芝 研究開発センター
-
鈴木 誠
東京大学生産技術研究所
著作論文
- hp22 nm Node Low Operating Power(LOP)向けSub-10nmゲートCMOS技術(VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低電力))
- 極薄膜NO Oxynitrideゲート絶縁膜とNi SALICIDEプロセスを用いた高性能35nmゲート長CMOS
- 微細High-k/メタルゲートデバイスにおけるキャリア移動度とT_スケーリングの関係および22nmノードに向けたデバイス設計ガイドライン(低電圧/低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用)
- FinFETを用いたhp22nm node SRAMのロバストなデバイス設計(VLSI回路, デバイス技術(高速・低電圧・低消費電力))
- 3次元プロセスデバイスシミュレーションによるBulk-FinFETの駆動電流の改善(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
- バルクシリコン基板上に形成したゲート長20nm、フィン幅6nmの CMOS FinFET のプロセスインテグレーション技術とデバイス特性
- バルクシリコン基板上に形成したゲート長20nm、フィン幅6nmのCMOS FinFETのプロセスインテグレーション技術とデバイス特性(先端CMOSデバイス・プロセス技術)
- hp22 nm Node Low Operating Power(LOP)向けSub-10nmゲートCMOS技術(VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低電力))
- 微細High-k/メタルゲートデバイスにおけるキャリア移動度とT_スケーリングの関係および22nmノードに向けたデバイス設計ガイドライン(低電圧/低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用)
- 32nmノード以降に向けたFinFET SRAMセルのDC特性ばらつき(IEDM(先端CMOSデバイス・プロセス技術))
- CT-1-3 22nm世代に向けたFinFET SRAM技術(CT-1.10nm世代に向けた新LSI技術,チュートリアル講演,ソサイエティ企画)
- 不純物偏析Schottkyソース/ドレインを用いた高性能FinFET(IEDM(先端CMOSデバイス・プロセス技術))
- 不純物偏析 Schottky ソース/ドレインを用いた高性能FinFET
- 3次元プロセスデバイスシミュレーションによるBulk-FinFETの駆動電流の改善(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
- SRAM : 低電圧化とばらつきへの挑戦(VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低消費電力))
- hp32nmノード以降に向けた周辺回路がBulk Planar FET及びメモリセルがBulk-FinFETで構成されたSRAM技術について(VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低消費電力))
- SRAM: 低電圧化とばらつきへの挑戦(VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低消費電力))
- hp32nmノード以降に向けた周辺回路がBulk Planar FET及びメモリセルがBulk-FinFETで構成されたSRAM技術について(VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低消費電力))
- FinFETを用いたhp22nm node SRAMのロバストなデバイス設計(VLSI回路, デバイス技術(高速・低電圧・低消費電力))
- 「電流立上り電圧」ばらつきに起因する微細MOSトランジスタのランダム電流ばらつきの解析(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)
- 「電流立上り電圧」ばらつきに起因する微細MOSトランジスタのランダム電流ばらつきの解析(デバイス,低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)
- 「電流立上り電圧」ばらつきに起因する微細MOSトランジスタのランダム電流ばらつきの解析
- DMA SRAM TEGにより解析したSRAMのスタティックノイズマージンにおけるDIBLばらつきの影響(IEDM特集(先端CMOSデバイス・プロセス技術))
- ナノスケールMOSFETにおけるプラズマドーピングとレーザーアニールを適用した急峻SDEの検討(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)
- ナノスケールMOSFETにおけるプラズマドーピングとレーザーアニールを適用した急峻SDEの検討(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)
- 微細MOSトランジスタにおけるDIBLおよび電流立上り電圧ばらつきの統計解析(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)
- Takeuchiプロットを用いたHigh-k/Metal-Gate MOSFETのばらつき評価(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)
- 微細MOSトランジスタにおけるDIBLおよび電流立上り電圧ばらつきの統計解析(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)
- Takeuchiプロットを用いたHigh-k/Metal-Gate MOSFETのばらつき評価(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)
- 微細MOSトランジスタにおけるDIBLおよび電流立上り電圧ばらつきの統計解析
- Takeuchi プロットを用いた High-k/Metal-Gate MOSFET のばらつき評価
- 微細MOSトランジスタにおけるDIBLおよび電流立上り電圧ばらつきの統計解析
- Takeuchi プロットを用いた High-k/Metal-Gate MOSFET のばらつき評価
- ナノスケールMOSFETにおけるプラズマドーピングとレーザーアニールを適用した急峻SDEの検討
- ナノスケールMOSFETにおけるプラズマドーピングとレーザーアニールを適用した急峻SDEの検討