川中 繁 | セミコンダクター社半導体研究開発センター株式会社東芝
スポンサーリンク
概要
関連著者
-
川中 繁
セミコンダクター社半導体研究開発センター株式会社東芝
-
辰村 光介
研究開発センターLSI基盤技術ラボラトリー株式会社東芝
-
後藤 正和
セミコンダクター社半導体研究開発センター株式会社東芝
-
後藤 正和
東芝 セミコンダクター社 半導体研究開発セ
-
豊島 義明
東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
-
後藤 正和
筑波大学電子・物理工学専攻
-
後藤 正和
徳島大学外科
-
犬宮 誠治
(株)東芝セミコンダクター社 プロセス技術開発センター
-
中嶋 一明
東芝
-
中嶋 一明
東芝 セミコンダクター社
-
犬宮 誠治
東芝
-
辰村 光介
(株)東芝研究開発センター
-
辰村 光介
(株)東芝 研究開発センター
-
稲葉 聡
東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
-
川中 繁
(株)東芝 セミコンダクター社 半導体研究開発センター
-
小山 正人
(株)東芝研究開発センターLSI基盤技術ラボラトリー
-
後藤 正和
東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
-
川中 繁
東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
-
小山 正人
(株)東芝研究開発センター
-
長友 浩二
(株)東芝セミコンダクター社SoC研究開発センター
-
長友 浩二
東芝
-
市原 玲華
(株)東芝研究開発センター
-
市原 玲華
(株)東芝 研究開発センター
-
小山 正人
(株)東芝
-
豊島 義明
(株)東芝 セミコンダクター社SoC研究開発センター
-
東 篤志
東芝セミコンダクター社
-
中嶋 一明
(株)東芝
-
楠 直樹
東芝セミコンダクター社システムLSI事業部
-
辰村 光介
東芝研究開発センター
-
東 篤志
東芝
-
後藤 正和
(株)東芝セミコンダクター社
-
木下 敦寛
東芝研究開発センターlsi基盤技術ラボラトリー
-
後藤 正和
(株)東芝 セミコンダクター社 半導体研究開発センター
-
鈴木 正道
(株)東芝 研究開発センター
-
安達 甘奈
(株)東芝セミコンダクター社SoC研究開発センター
-
佐々木 俊行
(株)東芝 セミコンダクター社プロセス技術推進センター
-
井谷 孝治
(株)東芝 セミコンダクター社 プロセス技術推進センター
-
上牟田 雄一
半導体MIRAI-ASET
-
辻井 秀二
株式会社東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
-
外園 明
株式会社東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
-
川中 繁
株式会社東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
-
豊島 義明
株式会社東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
-
豊島 義明
東芝セミコンダクター社 システムLSI開発センター
-
飯沼 俊彦
株式会社東芝 セミコンダクター社 プロセス技術推進センター
-
小野田 裕之
(株)東芝セミコンダクター社システムLSI事業部
-
宮野 清孝
(株)東芝 セミコンダクター社プロセス技術推進センター
-
宮野 清孝
東芝マイクロエレクトロニクス技術研究所
-
佐々木 俊行
(株)東芝セミコンダクター社
-
青山 知憲
(株)東芝セミコンダクター社
-
土屋 義規
(株)東芝 研究開発センター
-
犬宮 誠治
東芝セミコンダクター社プロセス技術推進センター
-
齋藤 真澄
東芝研究開発センター
-
木下 敦寛
東芝研究開発センター
-
小池 正浩
(株)東芝研究開発センター
-
上牟田 雄一
(株)東芝研究開発センター
-
福島 崇
東芝
-
野町 映子
東芝
-
小野田 裕之
東芝
-
吉水 康人
東芝
-
関根 克行
東芝 セミコンダクター社
-
吉水 康人
(株)東芝セミコンダクター社
-
福島 崇
(株)東芝セミコンダクター社
-
野町 映子
(株)東芝セミコンダクター社
-
長友 浩二
東芝セミコンダクター社
-
中嶋 一明
東芝セミコンダクター社
-
関根 克行
東芝セミコンダクター社
-
小山 正人
東芝 研究開発センター
-
齋藤 真澄
(株)東芝研究開発センターLSI基盤技術ラボラトリー
-
齋藤 真澄
東芝研究開発センターlsi基盤技術ラボラトリー
-
杉崎 絵美子
株式会社東芝研究開発センター
-
宮田 俊敬
株式会社東芝研究開発センター
-
大島 康礼
株式会社東芝セミコンダクター&ストレージ社
-
安達 甘奈
株式会社東芝研究開発センター
-
宮野 清孝
株式会社東芝研究開発センター
-
稲葉 聡
株式会社東芝研究開発センター
-
井谷 孝治
株式会社東芝セミコンダクター&ストレージ社
-
大島 康礼
株式会社東芝セミコンダクター&ストレージ社
-
辻井 秀二
株式会社東芝セミコンダクター&ストレージ社
-
井谷 孝治
株式会社東芝セミコンダクター&ストレージ社
-
安達 甘奈
株式会社東芝デバイスプロセス開発センター
-
辻井 秀二
株式会社東芝
-
川中 繁
株式会社東芝セミコンダクター&ストレージ社
-
豊島 義明
株式会社東芝セミコンダクター&ストレージ社
-
宮田 俊敬
株式会社東芝セミコンダクター&ストレージ社
-
外園 明
株式会社東芝セミコンダクター&ストレージ社
-
安武 信昭
(株)東芝セミコンダクター社SoC研究開発センター
-
大内 和也
(株)東芝セミコンダクター社SoC研究開発センター
-
青木 伸俊
(株)東芝セミコンダクター社SoC研究開発センター
-
諸岡 哲
(株)東芝セミコンダクター社SoC研究開発センター
-
石丸 一成
(株)東芝セミコンダクター社SoC研究開発センター
-
東 篤志
(株)東芝 セミコンダクター社 システムLSI開発センター
-
川澄 篤
株式会社東芝
-
川澄 篤
東芝セミコンダクター社
-
石丸 一成
(株)東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
-
石丸 一成
(株)東芝セミコンダクター社
-
安武 信昭
(株)東芝 セミコンダクター社 半導体研究開発センター
-
東 篤志
株式会社東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
-
石田 達也
(株)東芝セミコンダクター社SoC研究開発センター
-
大内 和也
SoC研究開発センター
-
矢橋 勝典
プロセス技術推進センター
-
森 伸二
プロセス技術推進センター
-
水島 一郎
プロセス技術推進センター
-
楠 直樹
システムLSIデバイス技術開発部
-
諸岡 哲
半導体先端テクノロジーズ(selete)
-
青木 伸俊
(株)東芝研究開発センターデバイスプロセス開発センター
-
青木 伸俊
マイクロエレクトロニクス研
-
青木 伸俊
(株)東芝soc開発センター
-
水島 一郎
株式会社東芝セミコンダクター社 プロセス技術推進センター
-
水島 一郎
東芝 セミコンダクター社 プロセス技術推進センター
-
川中 繁
東芝研究開発センター先端半導体デバイス研究所
-
矢橋 勝典
東芝 セミコンダクター社 プロセス技術推進センター
-
水島 一郎
東芝セミコンダクター社プロセス技術推進センター
-
石原 貴光
研究開発センターLSI基盤技術ラボラトリー株式会社東芝
-
犬宮 誠治
セミコンダクター社プロセス技術推進センター株式会社東芝
-
中嶋 一明
セミコンダクター社プロセス技術推進センター株式会社東芝
-
金子 明生
セミコンダクター社プロセス技術推進センター株式会社東芝
-
木下 敦寛
研究開発センターLSI基盤技術ラボラトリー株式会社東芝
-
青木 伸俊
東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
-
石原 貴光
(株)東芝研究開発センターLSI基盤技術ラボラトリー
-
石田 達也
(株)東芝セミコンダクター社システムlsi事業部
-
楠 直樹
(株)東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
-
石田 達也
(株)東芝 セミコンダクター社 半導体研究開発センター
-
水島 一郎
東芝セミコンダクター社 プロセス技術推進セ
-
諸岡 哲
(株)東芝 セミコンダクター社 半導体研究開発センター
-
川澄 篤
東芝セミコンダクター&ストレージ社半導体研究開発センター先端ワイヤレス・アナログ技術開発部
-
川中 繁
東芝研究開発センターデバイスプロセス開発センター高性能cmosデバイス技術開発部
著作論文
- 微細High-k/メタルゲートデバイスにおけるキャリア移動度とT_スケーリングの関係および22nmノードに向けたデバイス設計ガイドライン(低電圧/低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用)
- 32nm世代以降に向けた高性能Two-step Recessed SiGe-S/D構造pMOSFET(シリコン関連材料の作製と評価)
- 微細High-k/メタルゲートデバイスにおけるキャリア移動度とT_スケーリングの関係および22nmノードに向けたデバイス設計ガイドライン(低電圧/低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用)
- 極微細TaC_x/HfSiONデバイスの性能および歪み効果に対するTaC_x組成の影響(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)
- LaまたはAl添加によるHfSiON/SiO_2界面のダイポール変調に起因する移動度低下と閾値電圧シフトとの相関関係(レギュラーセッション,ゲート絶縁薄膜,容量膜,機能膜及びメモリ技術)
- 極微細TaC_x/HfSiONデバイスの性能および歪み効果に対するTaC_x組成の影響(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)
- 32nm世代以降のCMOS向けメタルゲート/High-k絶縁膜技術の導入によるMOSFET特性の変化(デバイス,VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低消費電力))
- 32nm世代以降のCMOS向けメタルゲート/High-k絶縁膜技術の導入によるMOSFET特性の変化(デバイス, VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低消費電力))
- 22nm世代システムLSIに向けたhigh-k/メタルゲートデバイス技術
- ナノスケールMOSFETにおけるプラズマドーピングとレーザーアニールを適用した急峻SDEの検討(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)
- ナノスケールMOSFETにおけるプラズマドーピングとレーザーアニールを適用した急峻SDEの検討(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)
- 超低消費電力LSI向けのSiN電荷捕獲層を有する新型V_自己調整MISFET(IEDM特集(先端CMOSデバイス・プロセス技術))