福島 崇 | (株)東芝セミコンダクター社
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概要
関連著者
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後藤 正和
筑波大学電子・物理工学専攻
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佐々木 俊行
(株)東芝 セミコンダクター社プロセス技術推進センター
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豊島 義明
(株)東芝 セミコンダクター社SoC研究開発センター
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後藤 正和
セミコンダクター社半導体研究開発センター株式会社東芝
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後藤 正和
徳島大学外科
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川中 繁
セミコンダクター社半導体研究開発センター株式会社東芝
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(株)東芝セミコンダクター社システムLSI事業部
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豊島 義明
東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
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佐々木 俊行
(株)東芝セミコンダクター社
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(株)東芝セミコンダクター社
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東芝
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東芝
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吉水 康人
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後藤 正和
(株)東芝セミコンダクター社
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(株)東芝研究開発センター
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福島 崇
(株)東芝セミコンダクター社
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野町 映子
(株)東芝セミコンダクター社
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東芝
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辰村 光介
研究開発センターLSI基盤技術ラボラトリー株式会社東芝
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後藤 正和
東芝 セミコンダクター社 半導体研究開発セ
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市原 玲華
(株)東芝 研究開発センター
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後藤 正和
(株)東芝 セミコンダクター社 半導体研究開発センター
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辰村 光介
(株)東芝 研究開発センター
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小山 正人
(株)東芝
著作論文
- 極微細TaC_x/HfSiONデバイスの性能および歪み効果に対するTaC_x組成の影響(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)
- 極微細TaC_x/HfSiONデバイスの性能および歪み効果に対するTaC_x組成の影響(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)