楠 直樹 | 東芝セミコンダクター社システムLSI事業部
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概要
関連著者
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楠 直樹
東芝セミコンダクター社システムLSI事業部
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木下 敦寛
東芝研究開発センターlsi基盤技術ラボラトリー
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川中 繁
セミコンダクター社半導体研究開発センター株式会社東芝
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豊島 義明
東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
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齋藤 真澄
東芝研究開発センター
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木下 敦寛
東芝研究開発センター
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齋藤 真澄
(株)東芝研究開発センターLSI基盤技術ラボラトリー
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齋藤 真澄
東芝研究開発センターlsi基盤技術ラボラトリー
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後藤 正和
筑波大学電子・物理工学専攻
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後藤 正和
セミコンダクター社半導体研究開発センター株式会社東芝
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後藤 正和
徳島大学外科
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(株)東芝 セミコンダクター社 半導体研究開発センター
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稲葉 聡
東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
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東芝セミコンダクター社 システムLSI開発センター
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株式会社東芝セミコンダクター社 プロセス技術推進センター
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水島 一郎
東芝 セミコンダクター社 プロセス技術推進センター
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(株)東芝セミコンダクター社 プロセス技術開発センター
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後藤 正和
東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
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川中 繁
東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
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犬宮 誠治
東芝セミコンダクター社プロセス技術推進センター
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辰村 光介
東芝研究開発センター
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松沢 一也
東芝LSI基盤技術ラボラトリー
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水島 一郎
東芝セミコンダクター社プロセス技術推進センター
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犬宮 誠治
東芝
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辰村 光介
研究開発センターLSI基盤技術ラボラトリー株式会社東芝
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青木 伸俊
東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
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後藤 正和
東芝 セミコンダクター社 半導体研究開発セ
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木下 敦寛
東芝LSI基盤技術ラボラトリー
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東芝セミコンダクター社
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水島 一郎
東芝セミコンダクター社 プロセス技術推進セ
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(株)東芝セミコンダクター社SoC研究開発センター
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大内 和也
(株)東芝セミコンダクター社SoC研究開発センター
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青木 伸俊
(株)東芝セミコンダクター社SoC研究開発センター
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(株)東芝セミコンダクター社SoC研究開発センター
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石丸 一成
(株)東芝セミコンダクター社SoC研究開発センター
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豊島 義明
(株)東芝 セミコンダクター社SoC研究開発センター
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東 篤志
(株)東芝 セミコンダクター社 システムLSI開発センター
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石丸 一成
(株)東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
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石丸 一成
(株)東芝セミコンダクター社
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外園 明
株式会社東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
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東 篤志
株式会社東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
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青木 伸俊
株式会社東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
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石田 達也
(株)東芝セミコンダクター社SoC研究開発センター
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大内 和也
SoC研究開発センター
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矢橋 勝典
プロセス技術推進センター
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森 伸二
プロセス技術推進センター
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水島 一郎
プロセス技術推進センター
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張 利
(株)東芝研究開発センター
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楠 直樹
システムLSIデバイス技術開発部
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川中 繁
(株)東芝 セミコンダクター社 半導体研究開発センター
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諸岡 哲
半導体先端テクノロジーズ(selete)
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東 篤志
東芝セミコンダクター社
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青木 伸俊
(株)東芝研究開発センターデバイスプロセス開発センター
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青木 伸俊
(株)東芝soc開発センター
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水島 一郎
東芝セミコンダクター社
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矢橋 勝典
東芝 セミコンダクター社 プロセス技術推進センター
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古賀 淳二
東芝研究開発センターLSI基盤技術ラボラトリー
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東 篤志
東芝
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張 利
東芝研究開発センターlsi基盤技術ラボラトリー
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小池 三夫
(株)東芝
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安武 信昭
東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
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外園 明
東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
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小池 三夫
東芝研究開発センターLSI基盤技術ラボラトリー
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竹野 史郎
東芝研究開発センターLSI基盤技術ラボラトリー
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石田 達也
(株)東芝セミコンダクター社システムlsi事業部
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楠 直樹
(株)東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
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竹野 史郎
(株)東芝研究開発センター環境技術研究所
-
石田 達也
(株)東芝 セミコンダクター社 半導体研究開発センター
-
諸岡 哲
(株)東芝 セミコンダクター社 半導体研究開発センター
著作論文
- 微細High-k/メタルゲートデバイスにおけるキャリア移動度とT_スケーリングの関係および22nmノードに向けたデバイス設計ガイドライン(低電圧/低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用)
- 32nm世代以降に向けた高性能Two-step Recessed SiGe-S/D構造pMOSFET(シリコン関連材料の作製と評価)
- 微細High-k/メタルゲートデバイスにおけるキャリア移動度とT_スケーリングの関係および22nmノードに向けたデバイス設計ガイドライン(低電圧/低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用)
- 走査型拡がり抵抗顕微鏡(SSRM)を用いたソース・ドレインにおける高分解能イメージング及び高精度プロービング解析(IEDM特集(先端CMOSデバイス・プロセス技術))
- 不純物揺らぎが金属半導体接合の輸送に与える影響(プロセス・デバイス・回路・シミュレーション及び一般)
- 不純物揺らぎが金属半導体接合の輸送に与える影響(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)