SOCを低電力化する回路技術とデバイスモデルの課題(<特集>IEDM(先端CMOSデバイス・プロセス技術))
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概要
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低電力SOCを実現するための最大の課題はリーク電流とデバイスの特性ばらつきである。これらの問題を解決するため、多くの回路技術が提案されてきた。ロジック回路には基板バイアス技術、メモリにはソース線制御技術が代表的なものである。今後は、ロジック回路のタイミング解析や、メモリの感度解析などの設計技術が重要になる。設計技術を向上するためには、ばらつきを表現できるトランジスタモデルが必要である。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2007-01-19
著者
-
塚本 康正
(株)ルネサステクノロジ製品技術本部設計技術統括部
-
大林 茂樹
(株)ルネサステクノロジ製品技術本部設計技術統括部
-
谷沢 元昭
ルネサステクノロジ株式会社
-
山岡 雅直
日立製作所・中央研究所
-
塚本 康正
株式会社ルネサステクノロジ
-
大林 茂樹
株式会社ルネサステクノロジ
-
石橋 孝一郎
(株)ルネサステクノロジ 製品技術本部設計基盤技術開発部
-
長田 健一
(株)日立製作所中央研究所
-
石橋 孝一郎
(株)ルネサステクノロジ
-
永久 克己
(株)ルネサステクノロジ
-
谷沢 元昭
(株)ルネサステクノロジ
-
宮崎 裕行
(株)日立製作所 中央研究所
-
山岡 雅直
(株)日立製作所 中央研究所
-
永久 克巳
(株)ルネサステクノロジ
-
石橋 孝一郎
(株)日立製作所中央研究所
-
塚本 康正
ルネサスエレクトロニクス株式会社
-
石橋 孝一郎
ルネサスエレクトロニクス
-
永久 克己
株式会社ルネサステクノロジ
-
山岡 雅直
日立製作所中央研究所
-
山岡 雅直
(株)日立製作所中央研究所
-
長田 健一
株式会社日立製作所
-
長田 健一
(株)日立製作所 中央研究所
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