過渡故障耐性を持つOut-of-Orderスーパスカラ・プロセッサのコミット方式

元データ 2010-07-27

概要

半導体プロセスが微細化するにつれて,ばらつきの問題が深刻化してきている.ばらつきを吸収するために,近年,動的なタイミング・フォルトを動的に検出・回復する技術が提案されている.そのひとつに,リセットをベースにした回復手法がある.本研究では,Out-of-order スーパスカラ・プロセッサのコミット・ステージに着目し,この手法をより信頼のあるものへ改良する.

著者

五島 正裕 東京大学情報理工学系研究科
塩谷 亮太 東京大学情報理工学研究科電子情報学専攻
坂井 修一 東京大学情報理工学研究科電子情報学専攻
有馬 慧 東京大学情報理工学系研究科
岡田 崇志 東京大学情報理工学系研究科
坂井 修一 東京大学
塩谷 亮太 東京大学情報理工学系研究科:日本学術振興会
有馬 慧 東京大学 情報理工学系研究科
五島 正裕 東京大学 情報理工学系研究科
坂井 修一 東京大学 情報理工学系研究科
ハイハー グェン 京都大学情報学研究科
五島 正裕 東京大学情報理工学研究科電子情報学専攻

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