耐永久故障FPGAアーキテクチャ

元データ 2009-07-28 一般社団法人情報処理学会

概要

宇宙で使用される電子機器は,放射線によりシングル・イベント効果などの故障を引き起こしやすいため,高い放射線耐性が要求される.また修理,交換が困難なこともあり,自律的に故障から回復する機構が求められる.本稿では,通常用途の FPGA (Field-Programmable Gate Array) にわずかなハードウェアを追加するだけで,過渡故障,永久故障に対する耐性を付加する手法を提案する.本手法では,機能回復ロジックを FPGA のユーザロジック上に構成することで,コンフィギュレーションデータを計算するための追加ハードウェアの必要をなくす.この手法により生じる面積オーバヘッドは小さいため,通常用途と高信頼用途の両立が可能であると考えられる.

著者

五島 正裕 東京大学情報理工学系研究科
坂井 修一 東京大学大学院工学系研究科
五島 正裕 東京大学大学院情報理工学系研究科
岡田 崇志 東京大学大学院情報理工学系研究科
喜多 貴信 東京大学大学院情報理工学系研究科
岡田 崇志 東京大学情報理工学系研究科
喜多 貴信 東京大学情報理工学系研究科
坂井 修一 東京大学
坂井 修一 東京大学 情報理工学系研究科
坂井 修一 東京大学大学院 情報理工学系研究科

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