Room-Temperature Demonstration of Low-Voltage Static Memory Based on Negative Differential Conductance in Silicon Single-Hole Transistors
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概要
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- 2004-09-15
著者
-
Hiramoto Toshiro
The Institute Of Industrial Science The University Of Tokyo:vlsi Design And Education Center The Uni
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Hiramoto Toshiro
Institute Of Industrial Science The University Of Tokyo
-
SAITOH Masumi
Institute of Industrial Science, University of Tokyo
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Saitoh Masumi
Institute Of Industrial Science University Of Tokyo
-
HARATA Hidehiro
Institute of Industrial Science, University of Tokyo
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Harata Hidehiro
Institute Of Industrial Science University Of Tokyo
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HIRAMOTO Toshiro
Institute Industrial Science, The University of Tokyo
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