SiGe/SiヘテロMOSFETにおけるヘテロ界面のホットキャリア局所劣化
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概要
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- 2006-10-03
著者
-
土屋 敏章
島根大学 総合理工学部
-
室田 淳一
東北大学電気通信研究所
-
櫻庭 政夫
東北大学電気通信研究所附属超高密度・高速知能システム実験施設
-
室田 淳一
東北大学
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室田 淳一
東北大学 電気通信研究所
-
櫻庭 政夫
東北大学
-
Tsuchiya T
National Inst. Advanced Industrial Sci. And Technol. Ibaraki Jpn
-
土屋 敏章
島根大学総合理工学部
-
Tsuchiya T
Department Of Electronics Doshisha University
-
Tsuchiya Toshiharu
Faculty Of Engineering Shizuoka University
-
Tsuchiya Takenobu
Department Of Electrical Electronics And Information Engineering Kanagawa University
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